Izoelektrična tačka — разлика између измена
Садржај обрисан Садржај додат
Нема описа измене |
Нема описа измене |
||
Ред 5:
Površina se mijenja kako bi se formirao dupli sloj. U čestom slučaju kada su naelektrisanja na površini su [[jon]]i H<sup>+</sup> /OH<sup>-</sup>, naelektrisanje površine zavisi od pH vrijednosti tečnosti u koju je uronjeno čvrsto tijelo. Pri pH vrijednosti [[rastvor]]a koja odgovara izoelektričnoj tački nema naelektrisanja na površini.
Vrijednost pl može da utiče na [[rastvorljivost]] molekula na datoj pH. Takvi molekuli imaju najmanju rastvorljivost u rastvorima koji imaju pH koji odgovara izoelektričnoj tački molekula i u takvim rastvorima oni se često [[talog|talože]] van rastvora. [[Biologija|Biološki]] amfoterni molekuli kao što su [[proteini]] sadrže i [[kiselina|kisele]] i [[baza (hemija)|bazne]] funkcionalne grupe. [[
==Izračunavanje vrijednosti pl==
Ред 12:
: <math> pI = {{pK_1 + pK_2} \over 2} </math>
Za
: <math> pI = {{9.06 + 10.54} \over 2} = 9.80 </math>
Ред 21:
==Keramički materijali==
Izoelektrična tačka [[metal]]nih [[oksid]]a koji ulaze u sastav keramike se često koristi u nauci o materijalima u raznim koracima procesuiranja u [[voda|vodenoj]] sredini (sinteza, modifikacija itd.). Ove površine koje su prisutne kao [[koloidi]] ili kao veće čestice u vodenom rastvoru su uglavnom pokrivene hidroksilnim vrstama M-OH (gdje je M metal kao što je Al, Si itd.). Na pH vrijednostima koje su iznad pl, dominantne vrste na površini su M-O<sup>-</sup>, dok su na pH vrijednostima ispod pl dominantne M-OH<sub>2</sub><sup>+</sup>. Navedene su neke približne vrijednosti uobičajene [[keramika|keramike]]. Tačne vrijednosti mogu varirati zavisno od faktora materijala kao što je čistoća i faza kao i fizički parametri kao što je [[temperatura]]. Precizno mjerenje izoelektrične tačke je teško i zahtijeva precizne tehnike čak i sa modernim metodama. Zbog toga mnogi izvori navode različite vrijednosti izoelektrične tačke ovih materijala.
===Primjeri izoelektričnih tačaka===
Ред 37:
*titanijum(IV) oksid (rutil ili anatas) TiO<sub>2</sub>: 3.9-8.2
*silicijum nitrid Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>: 6-7
*gvožđe (II III) oksid ([[magnetit]]) Fe<sub>3</sub>O<sub>4</sub>: 6.5-6.8
*gama gvožđe (III) oksid (magemit) Fe<sub>2</sub>O<sub>3</sub>: 3.3-6.7
*cerijum (IV) oksid CeO<sub>2</sub>: 6.7-8.6
Ред 44:
*talijum (I) oksid Tl<sub>2</sub>O: 8
Pomiješani oksidi mogu imati izoelektrične tačke koje su između onih koje odgovaraju čistim oksidima. Na primjer izmjeren je pl u iznosu od 4.5 za sintetički pripremljeni [[amorfnost|amorfni]] [[aluminosilikat]] (Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>-SiO<sub>2</sub>). Primijećeno je da je elektrokinetičko ponašanje površine bilo pretežno od strane Si-OH vrsta što objašnjava relativno nisku pl vrijednost. Veće vrijednosti pl vrijednosti (od 6 do 8) ima 3Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>-2SiO<sub>2</sub> kao i barijum titranat BaTiO<sub>3</sub> koji je između pH 5 i 6.
Što je pH vrijednost rastvora aminokiseline veća udaljenija od vrijednosti pl to je ta grupa molekula više naelektrisana.
==Izoelektrična tačka nasuprot nultog naelektrisanja==
Termin izoelektrična tačka i tačka nultog [[naelektrisanje|naelektrisanja]] se često koriste iako pod nekim uslovima postoje razlike.
U sistemima u kojima su H<sup>+</sup>/OH<sup>-</sup> joni koji određuju površinu, tačka nultog naelektrisanja je data u pH. pH vrijednost na kojoj površina postaje neutralna predstavlja tačku nultog naelektrisanja površine. Elektrokinetički fenomeni uglavnom mjere zeta potencijal, i nulti zeta potencijal je definisan kao tačka nultog naelektrisanja na dvostrukom sloju. izoelektrična tačka predstavlja pH vrijednost pri kojoj čestica
U odsustvu pozitivnih ili negativnih naelektrisanja površina se najbolje opisuje tačkom nultog naelektrisanja. Ako su pozitivna i negativna naelektrisanja prisutna u jednakim količinama onda je u pitanju izoelektrična tačka. A tačka nultog naelektrisanja se odnosi na odsustvo bilo kojeg naelektrisanja na površini, dok se izoelektrična tačka odnosi na stanje neutralnog ukupnog naelektrisanja površine. Razlika između njih je količina naelektrisanih mjesta na tački ukupnog negativnog naelektrisanja. Konstante ravnoteže površine pK<sup>-</sup> i pK<sup>+</sup> definišu dva uslova prema relativnom broju naelektrisanih mjesta:
|