Amorfnost — разлика између измена

нема резимеа измене
Pojavljivanje amorfnih faza je takodje vazno u proucavanju rasta tankih filmova. Rast polikristalnih filmova cesto pocinje amorfnim sloja, cija debljina moze biti samo nekoliko nm. Najbolje ispitan primjer je tanki polikristalni silicijumski film gdje je pocetni amorfni sloj posmatran u mnogim ispitivanjima. Komadi polikristala su identifikovani pomocu transmisionog elektronskog mikroskopa i uoceno je da rastu iz amorfnog sloja nakon sto amorfni sloj dostigne odredjenu debljinu, cija precizna vrijednost zavisi od temperature izdvajanja, pritiska i raznih drugih parametara. Ovaj fenomen je interpretiran u okviru Ostvladovih pravila o stanjima koje predvidja formiranje manje stabnilnih faza koje tokom vremena kondenzacija prelaze u stabilnije oblike. Eksperimentalna proucavanja ovog fenomena zahtijevaju odredjeno stanje povrsine supstrata i njegovu gustinu nakon koje se stvara tanki film.
 
[[Kategorija: Fizička hemija]]
 
[[ar:مادة لابلورية]]