Рендгенска кристалографија — разлика између измена
Садржај обрисан Садржај додат
м исправљање правописних и других грешака |
м исправљање правописних и других грешака |
||
Ред 132:
Кристал се затим поставља у дифрактометар који је повезан са извором x зрачења. То може бити или рендгенска цев са стационарном анодом (улаз око 2 -{kW}- ЈС), извор типа ротирајуће аноде (улаз око 14 -{kW}- ЈС инпут) или синхротон (знатно јачи флукс фотона). При одговарајућим условима долази до дифракције x зрачења, како је горе објашњено, и дифракциона слика се снима на филму или у новије време бележи погодним детектором и преноси на рачунар. Сукцесивне слике добијамо ротацијом кристала у снопу x зрачења.
Пре него што је у експеримент уведено хлађење кристала подаци су добијани на собним температурама. Због горе описаних проблема који се јављају
===Обрада података===
| |||