Микроскоп атомских сила — разлика између измена

Садржај обрисан Садржај додат
м Бот: уклоњен шаблон: Link GA
м Бот: исправљена преусмерења
Ред 7:
 
== Принцип рада ==
Микроскопија атомских сила се заснива на мерењу интензитета [[Неполарне интеракције|неполарних међумолекуларних сила]] чији је аналитички опис дат изразом за [[Ленард-Џоунсов потенцијал|Ленард-Џонсов потенцијал]]. Интензитет неполарних [[Међумолекуларне силе|међумолекуларних сила]] је зависан од растојања на коме се налазе честице чију интеракцију утврђујемо, што нам омогућује да мерењем интензитета силе тачно одредимо на ком се растојању од узорка (атома) налазимо. На основу измерене вредности интензитета силе се реконструише растојање од узорка и то је основа за формирање слике која се добија методом микроскопије атомских сила. Ако у великом броју тачака на површини неког узорка извршимо мерење интензитета међумолекуларних сила, тада смо у могућности да, спајањем тих тачака, добијемо информацију о морфолошком изгледу те површине.
 
Мерења се спроводе помоћу [[Нано-конзола|нано-конзоле]] која представља кључну компоненту система за мерење сила чији се интензитет креће у опсегу неколико наноњутна (10<sup>-9</sup> -{m}-).