Микроскоп атомских сила — разлика између измена
Садржај обрисан Садржај додат
мНема описа измене |
Нема описа измене |
||
Ред 1:
'''Микроскоп Атомских Сила''' (МАС) (Atomic Force Microscope - AFM) или скенирајући микроскоп сила (Scanning Force Microscope - SFM) је уређај који припада породици [[Микроскоп са скенирајућом сондом|микроскопа са скенирајућом сондом]] (Scanning Probe Microscope - SPM) чији се рад заснива на мерењу међумолекуларних сила које делују између атома мерне сонде и атома испитиваног узорка. Мерење се спроводи од тачке до тачке, након чега се подаци свих испитаних тачака прикупљају у снимак испитиване површине. Технологија која је претходила микроскопији атомских сила је [[Скенирајући Тунелски Микроскоп|Скенирајућа Тунелска Микроскопија]] (Scanning Tunneling Microscopy - STM) чији се рад заснива на [[Квантна механика|квантно-механичком]] ефекту [[Тунеловање електрона|тунеловања електрона]] кроз диелектрик.
Овом, данас изузетно успешном технологијом визуелизације, постигнута је резолуција снимања од неколико пикометара чиме је омогућено снимање узорака у атомској резолуцији. Данашња оптичка и електронска микроскопија су на прагу достизања овако високе резолуције. У будућности се очекује даљи развој обеју технологија тако да ће бити могуће рутинско снимање у атомској резолуцији.
| |||