Микроскоп атомских сила — разлика између измена

'''Микроскоп Атомских Сила''' (МАС) ({{jez-eng-lat|Atomic Force Microscope}}, - {AFM}-) или скенирајући микроскоп сила ({{jez-eng-lat|Scanning Force Microscope}}, - {SFM}-) је уређај који припада породици [[Микроскоп са скенирајућом сондом|микроскопа са скенирајућом сондом]] (Scanning Probe Microscope - SPM) чији се рад заснива на мерењу међумолекуларних сила које делују између атома мерне сонде и атома испитиваног узорка. Мерење се спроводи од тачке до тачке, након чега се подаци свих испитаних тачака прикупљају у снимак испитиване површине. Технологија која је претходила микроскопији атомских сила је [[Скенирајући тунелски микроскоп|Скенирајућа Тунелска Микроскопија]] ({{jez-eng-lat|Scanning Tunneling Microscopy}}, - {STM}-) чији се рад заснива на [[Квантна механика|квантно-механичком]] ефекту [[Тунеловање електрона|тунеловања електрона]] кроз диелектрик.

Метода Микроскопије Атомских Сила (МАС) је настала [[1986]]. године као производ истраживања која су, у лабораторијама америчке фирме IBM у Цириху, спровели [[Gerd Binnig|Герд Биниг]], [[Calvin Quate|Келвин Квејт]] и [[Christoph Gerber|Кристоф Гербер]]. Овом открићу је претходило откриће Скенирајуће Тунелске Микроскопије (СТМ) [[1982]]. године од стране [[Gerd Binnig|Герд Биниг]]а и [[Heinrich Rohrer|Хајнрих Рорер]]а који су за рад на технологији СТМ награђени Нобеловом Наградом за Физику.