Микроскоп атомских сила — разлика између измена
Садржај обрисан Садржај додат
м Bot: Adding {{Commonscat|Atomic force microscopy}} |
|||
Ред 21:
Разликујемо два основна режима рада овог микроскопа: статички и динамички. У статичком режиму нано-конзола прелази преко узорка и врши мерења на начин који је претходно описан. У динамичком режиму се нано-конзоли саопштавају принудне хармонијске осцилације које је доводе у осцилаторни режим кретања што омогућава проширење могућности мерења на већи број изведених физичких величина.
==Литература==
{{refbegin|2}}-{
*A. D L. Humphris, M. J. Miles, J. K. Hobbs, [http://www.infinitesima.com/downloads/APL_paper.pdf A mechanical microscope: High-speed atomic force microscopy], Applied Physics Letters 86, 034106 (2005).
*D. Sarid, Scanning Force Microscopy, Oxford Series in Optical and Imaging Sciences, Oxford University Press, New York (1991)
Линија 38 ⟶ 39:
*P. West, Introduction to Atomic Force Microscopy: Theory, Practice and Applications --- www.AFMUniversity.org
*R. W. Carpick and M. Salmeron, [http://dx.doi.org/10.1021/cr960068q Scratching the surface: Fundamental investigations of tribology with atomic force microscopy], Chemical Reviews, vol. 97, iss. 4, pp. 1163-1194 (2007).
*Y. Roiter and S. Minko, [http://dx.doi.org/10.1021/ja0558239 AFM Single Molecule Experiments at the Solid-Liquid Interface: In Situ Conformation of Adsorbed Flexible Polyelectrolyte Chains], Journal of the American Chemical Society, vol. 127, iss. 45, pp. 15688-15689 (2005).}-
{{refend}}
==Спољашње везе==
| |||