Кристалографски дефект
Кристалографски дефект је прекид правилних образаца распореда атома или молекула у кристалним чврстим материјама. Положаји и оријентације честица, које се понављају на фиксним растојањима одређеним параметрима јединичне ћелије у кристалима, показују периодичну кристалну структуру, али она је обично несавршена.[2][3][4][5] Често се карактерише неколико типова дефеката: тачкасти дефекти, линијски дефекти, планарни дефекти, дефекти масе. Тополошка хомотопија успоставља математички метод карактеризације.
Референце
уреди- ^ Хонг, Ј.; Ху, З.; Проберт, M.; Ли, К.; Лв, D.; Yанг, X.; Гу, L.; Мао, Н.; Фенг, Q.; Xие, L.; Зханг, Ј.; Wу, D.; Зханг, З.; Јин, C.; Ји, W.; Зханг, X.; Yуан, Ј.; Зханг, З. (2015). „Еxплоринг атомиц дефецтс ин молyбденум дисулпхиде монолаyерс”. Натуре Цоммуницатионс. 6: 6293. Бибцоде:2015НатЦо...6.6293Х. ПМЦ 4346634
. ПМИД 25695374. дои:10.1038/нцоммс7293.
- ^ Ехрхарт, П. (1991) Пропертиес анд интерацтионс оф атомиц дефецтс ин металс анд аллоyс Архивирано 2013-02-03 на сајту Archive.today, волуме 25 оф Ландолт-Бöрнстеин, Неw Сериес III, цхаптер 2, п. 88, Спрингер, Берлин
- ^ Сиегел, Р. W. (1982) Атомиц Дефецтс анд Диффусион ин Металс, ин Поинт Дефецтс анд Дефецт Интерацтионс ин Металс, Ј.-I. Такамура (ЕД.), п. 783, Нортх Холланд, Амстердам
- ^ Цраwфорд, Ј. Х.; Слифкин, L. M., ур. (1975). Поинт Дефецтс ин Солидс. Неw Yорк: Пленум Пресс.
- ^ Wаткинс, Г. D. (1997) "Нативе дефецтс анд тхеир интерацтионс wитх импуритиес ин силицон", п. 139 ин Дефецтс анд Диффусион ин Силицон Процессинг, Т. Диаз де ла Рубиа, С. Цоффа, П. А. Столк, анд C. С. Раффертy (едс), вол. 469 оф МРС Сyмпосиум Процеедингс, Материалс Ресеарцх Социетy, Питтсбургх, ISBN 1-55899-373-8
Литература
уреди- Хаген Клеинерт, Гауге Фиелдс ин Цонденсед Маттер, Вол. II, "Стрессес анд дефецтс", пп. 743–1456, Wорлд Сциентифиц (Сингапоре, 1989); Папербацк ISBN 9971-5-0210-0
- Херманн Сцхмалзриед: Солид Стате Реацтионс. Верлаг Цхемие, Wеинхеим 1981, ISBN 3-527-25872-8.