Mikroskopija skenirajućom sondom

Mikroskopija skenirajućom sondom (MSS) (engl. Scanning Probe Microscopy - SPM) je oblast mikroskopije koja se zasniva na upotrebi mernog uređaja neke fizičke veličine (sonda) čijim se relativnim kretanjem u odnosu na snimani uzorak (skeniranje) vrši merenje vrednosti fizičke veličine u ravnomerno raspoređenim tačkama uzorka na osnovu čega se rekonstruiše izgled površine (merene fizičke veličine) za ceo uzorak.

Na principu MSS rade savremeni elektronski mikroskopi ali i mikroskop atomskih sila i skenirajući tunelski mikroskop. Razlika između ovih tehnologija je u konstrukciji sonde i izboru fizičke veličine na osnovu koje se vrši rekonstrukcija izgleda uzorka.